微纳计量 MicroNano Metrology微纳计量 MicroNano Metrology
Shanghai MicroNano Metrology Co. Ltd.

上海微纳计量技术有限公司

主要从事计量仪器、纳米材料、微纳米仪器及相关技术服务，面向科研实验室与高精尖半导体行业提供稳定、可靠的测量基准。公司业务涵盖技术开发、技术转让、技术咨询与技术服务，同时提供微纳米仪器设备、仪器仪表、纳米材料及相关产品的销售与应用支持

追求极致精度，从微观开始

Years of Expertise
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深耕半导体与精密测量领域二十多年，积累丰富的仪器应用与服务经验

Academia & Industry R&D
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为科研实验室、高校院所与工业客户提供技术支持、产品供应与应用服务

Measurement Scale
纳米级

面向薄膜厚度、台阶高度、微纳结构与半导体工艺测量提供稳定支持

热销产品

Micronano 致力于为纳米科研与生产提供精确的成像耗材与校准标准。在以下主要类别中探索符合您应用场景的高性能产品

AFM 原子力显微镜探针

AFM 原子力显微镜探针

面向纳米尺度形貌成像与多物性表征的关键耗材，满足形貌、力学、电学、磁学及生物/软样品等应用需求

查找探针型号
VLSI 标准样片

VLSI 标准样片

用于半导体与精密量测设备校准、性能验证和日常检查的参考样品，支持尺寸、膜厚、形貌与颗粒检测结果确认

查看校准样片

合作品牌与代理厂商

与多家国际领先纳米与半导体设备厂商建立长期合作，为您带来更完整、更稳定的精密量测与应用支持方案

NANOSENSORS
NanoWorld
MikroMasch
BudgetSensors
OPUS
VLSI Standards
AST
AppNano
Sqube
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Metrology Technical Services

量测仪器与技术服务

面向薄膜与晶圆量测场景，提供仪器产品咨询、应用与安装支持，以及维修保养等技术服务

仪器品牌包括 Angstrom Sun Technologies，涵盖光谱椭偏、光谱反射与膜厚、显微光谱与微区量测、晶圆几何与表面量测等类别

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