AFM Probes

AFM 探针

面向纳米尺度形貌成像与多物性表征的关键耗材,满足形貌、力学、电学、磁学及生物/软样品等应用需求

Probe Candidate Results
共 600 个型号;当前显示 6 个型号
Akiyama-Probe AFM 探针图片
NANOSENSORS
特殊探针
Akiyama-Probe
Akiyama-Probe
自感应 / 石英音叉

石英音叉自感应结构,无需光杠杆即可直接检测振动响应

弹性系数 k
5 N/m
共振频率 f₀
45 kHz
针尖半径
<15 nm
160AC-FG AFM 探针图片
OPUS
单悬臂
160AC-FG
Trench
高深宽比 HAR

细长高深宽比针尖可探入深沟槽、高台阶等复杂结构

弹性系数 k
26 N/m
共振频率 f₀
300 kHz
针尖半径
~10 nm
160AC-GG AFM 探针图片
OPUS
单悬臂
160AC-GG
Biologic and Special Applications
生物与生命科学

面向细胞、组织等生命科学样品的形貌成像

弹性系数 k
26 N/m
共振频率 f₀
300 kHz
针尖半径
<30 nm
160AC-NA AFM 探针图片
OPUS
单悬臂
160AC-NA
Topography
常规形貌轻敲 / 动态

单晶硅标准探针,适合日常样品形貌观察的稳妥选择

弹性系数 k
26 N/m
共振频率 f₀
300 kHz
针尖半径
<7 nm
160AC-NG AFM 探针图片
OPUS
单悬臂
160AC-NG
Biologic and Special Applications
常规形貌轻敲 / 动态

单晶硅标准探针,适合日常样品形貌观察的稳妥选择

弹性系数 k
26 N/m
共振频率 f₀
300 kHz
针尖半径
<7 nm
160AC-NN AFM 探针图片
OPUS
单悬臂
160AC-NN
Topography
常规形貌轻敲 / 动态

单晶硅标准探针,适合日常样品形貌观察的稳妥选择

弹性系数 k
26 N/m
共振频率 f₀
300 kHz
针尖半径
<7 nm
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